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滤料测试仪GMFP 4000:
滤料测试仪GMFP 4000用于根据DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准，测量HEPA和ULPA过滤介质的除尘效率。
GU-SMPS型号的现代超强纳米颗粒测量装置用于范围在5nm-2μm的粒径测量和数量分析。
通过本设备和UF-CPC浓度颗粒计数器，对原始气体和清洁气体中颗粒在指定粒径范围的除尘效率进行实时测量。
设备部件:
多种气溶胶发尘器-UGF 2000发尘器用于氯化钾/氯化钠或DEHS ，集成Nafion干燥系统 。气溶胶产生的体积流量通过质量流量控制器独立调节。
气溶胶中和装置-Kr-85-370或XRC 370。
可移动气动式过滤夹具-用于测试台移除和装载。U-SMPS中DEMC 2000微分电迁移率的分类器区分UGF-2000产生的多分散式气溶胶的粒径。DEMC 2000下游只含有单分散颗粒。其他粒径由DEMC 2000控制装置自动调节。
UF-CPC 200高浓度颗粒计数器-用于测量原始高浓度气体颗粒数量分布，单次计数模式可测量颗粒浓度高达2000000 颗粒/cm3 ，无需稀释系统和系统清洁。
UF-CPC 200高浓度颗粒计数器-用于测量清洁低浓度气体颗粒数量分布，单次计数模式可测量颗粒浓度高达10000 颗粒/cm3 。
测量优势：
通过测量原始和清洁气体的颗粒浓度，测量分级除尘效率的测量时间缩短一半。
组合2种UF-CPC，UF-CPC 200用于高浓度原始气体测量高达2000000 颗粒/cm3 （单次计数模式），UF-CPC 50用于低浓度清洁气体测量，相当于1:200的稀释比例，不在需要传统的气溶胶稀释方式。
产品优点:
分级除尘效率实时测量高于10nm
通过测量原始和清洁气体的颗粒浓度，测量分级除尘效率的测量时间缩短一半
无需稀释
组合2种UF-CPC，UF-CPC 200用于高浓度原始气体测量高达2000000 颗粒/cm3 （单次计数模式），UF-CPC 50用于低浓度清洁气体测量，相当于1:200的稀释率
国际标准测量结果，符合DIN EN 1822-3 和ISO 29463-3
可使用不同气溶胶，NaCl / KCl 或DEHS （如有要求和提供其他气溶胶）
分级除尘效率测量简单，可测量MPPS范围
测试方法高度可再现性
灵活的过滤测试软件FTControl
操作简单，未经培训的人员也可经指导快速使用该设备
设置时间短，操作速度快
清洁可由客户自行操作
测量技术组件使用简单
移动设置，便于脚轮移动
在预交付验收测试和交付时，各组件和整个系统功能完好
功能可靠
低维护
该设备可降低运营成本
技术参数:
测量范围（粒径）:U-SMPS 2050: 10 - 800 nm
容积流量:0.54 - 16 m?/h (pressurized operation)
电源:115/230 V, 50/60 Hz
尺寸:Approx. 600 ? 1800 ? 900 mm (W ? H ? D)
流入速度:1.5 - 40 cm/s (others on request)
压差测量:0 - 2500 Pa (others on request)
介质测试面积:100 cm?
气溶胶:尘埃（如SAE尘埃），盐（如NaCl, KCl ），液体气溶胶（如DEHS）
压缩供应气体:6 - 8 barg
滤料测试仪GMFP 4000用于根据DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准，测量HEPA和ULPA过滤介质的除尘效率。
GU-SMPS型号的现代超强纳米颗粒测量装置用于范围在5nm-2μm的粒径测量和数量分析。
通过本设备和UF-CPC浓度颗粒计数器，对原始气体和清洁气体中颗粒在指定粒径范围的除尘效率进行实时测量。
设备部件:
多种气溶胶发尘器-UGF 2000发尘器用于氯化钾/氯化钠或DEHS ，集成Nafion干燥系统 。气溶胶产生的体积流量通过质量流量控制器独立调节。
气溶胶中和装置-Kr-85-370或XRC 370。
可移动气动式过滤夹具-用于测试台移除和装载。U-SMPS中DEMC 2000微分电迁移率的分类器区分UGF-2000产生的多分散式气溶胶的粒径。DEMC 2000下游只含有单分散颗粒。其他粒径由DEMC 2000控制装置自动调节。
UF-CPC 200高浓度颗粒计数器-用于测量原始高浓度气体颗粒数量分布，单次计数模式可测量颗粒浓度高达2000000 颗粒/cm3 ，无需稀释系统和系统清洁。
UF-CPC 200高浓度颗粒计数器-用于测量清洁低浓度气体颗粒数量分布，单次计数模式可测量颗粒浓度高达10000 颗粒/cm3 。
测量优势：
通过测量原始和清洁气体的颗粒浓度，测量分级除尘效率的测量时间缩短一半。
组合2种UF-CPC，UF-CPC 200用于高浓度原始气体测量高达2000000 颗粒/cm3 （单次计数模式），UF-CPC 50用于低浓度清洁气体测量，相当于1:200的稀释比例，不在需要传统的气溶胶稀释方式。
产品优点:
分级除尘效率实时测量高于10nm
通过测量原始和清洁气体的颗粒浓度，测量分级除尘效率的测量时间缩短一半
无需稀释
组合2种UF-CPC，UF-CPC 200用于高浓度原始气体测量高达2000000 颗粒/cm3 （单次计数模式），UF-CPC 50用于低浓度清洁气体测量，相当于1:200的稀释率
国际标准测量结果，符合DIN EN 1822-3 和ISO 29463-3
可使用不同气溶胶，NaCl / KCl 或DEHS （如有要求和提供其他气溶胶）
分级除尘效率测量简单，可测量MPPS范围
测试方法高度可再现性
灵活的过滤测试软件FTControl
操作简单，未经培训的人员也可经指导快速使用该设备
设置时间短，操作速度快
清洁可由客户自行操作
测量技术组件使用简单
移动设置，便于脚轮移动
在预交付验收测试和交付时，各组件和整个系统功能完好
功能可靠
低维护
该设备可降低运营成本
技术参数:
测量范围（粒径）:U-SMPS 2050: 10 - 800 nm
容积流量:0.54 - 16 m?/h (pressurized operation)
电源:115/230 V, 50/60 Hz
尺寸:Approx. 600 ? 1800 ? 900 mm (W ? H ? D)
流入速度:1.5 - 40 cm/s (others on request)
压差测量:0 - 2500 Pa (others on request)
介质测试面积:100 cm?
气溶胶:尘埃（如SAE尘埃），盐（如NaCl, KCl ），液体气溶胶（如DEHS）
压缩供应气体:6 - 8 barg
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